निम्न दबाव परीक्षण
प्राकृतिक वातावरण में वायुमंडलीय दबाव ऊंचाई बढ़ने के साथ घटता है।बैटरी और विभिन्न घटक उच्च ऊंचाई पर या उच्च ऊंचाई पर संग्रहीत या उपयोग किए जाते हैं, वे बाहरी तापमान और वायु दबाव के संयुक्त प्रभावों से प्रभावित हो सकते हैं, जिसके परिणामस्वरूप उत्पाद के भौतिक गुणों में परिवर्तन हो सकते हैं, जैसे कि सामग्री विस्तार, टूटना,सील गुहा में हवा का रिसाव या तरल का रिसाव, आदि, जो उत्पाद की विफलता का कारण बन सकता है।

निम्न दबाव परीक्षण एक परीक्षण विधि है जिसमें उच्च ऊंचाई पर निम्न दबाव वाले वातावरण का अनुकरण करने के लिए उपकरण का उपयोग किया जाता है और भंडारण के लिए उत्पाद की अनुकूलता को जल्दी से सत्यापित किया जाता है,कम दबाव वाले वातावरण में परिवहन और उपयोगकम दबाव परीक्षण के माध्यम से उत्पाद के डिजाइन दोषों का प्रारंभिक चरण में पता लगाया जा सकता है और वास्तविक उपयोग में उत्पाद की विफलता दर को कम किया जा सकता है।

निम्न दबाव परीक्षण क्या है

वायु दबाव और ऊंचाई के बीच मेल
प्राकृतिक वातावरण में, हवा का दबाव बढ़ी हुई ऊंचाई के साथ घटता है, लेकिन समुद्र तल पर मानक वायु दबाव, औसत आणविक भार, गुरुत्वाकर्षण त्वरण आदि जैसे कारकों से प्रभावित होता है।,विभिन्न स्थानों पर वायु दबाव और ऊंचाई के बीच मेल-जोल बिल्कुल समान नहीं है। सामान्य प्रवृत्ति निम्नलिखित तालिका में दर्शाई गई है (संदर्भ के लिए):

वायु दबाव और ऊंचाई के बीच मेल

एलसीएस क्षमता
ग्राहकों की बेहतर सेवा के लिए, एलसीएस ऑटोमोटिव डिवीजन ने निम्नलिखित परीक्षण क्षमताओं के साथ एक व्यापक वायु दबाव-तापमान-नमी परीक्षण कक्ष पेश किया हैः

व्यापक वायु दबाव-तापमान-नमी परीक्षण कक्ष

तापमान सीमाः -70°C~180°C
आर्द्रता सीमाः 10%~98% आरएच (10°C~90°C नियंत्रित आर्द्रता)
वायु दबाव सीमाः 0.5kPa~100kPa (5mbar~1bar)
अन्य क्षमताएंः प्रोटोटाइप को चालू करने और निगरानी करने के लिए 1 Ø50 मिमी पावर-ऑन छेद स्थापित किया गया है

लागू मानक
GJB 150.2A-2009 प्रक्रिया I - भंडारण/वायु परिवहन, प्रक्रिया II - कार्य/बाहरी उड़ान;
GJB 360B-2009 "इलेक्ट्रॉनिक और इलेक्ट्रिकल घटकों के लिए परीक्षण विधियाँ" विधि 105 निम्न दबाव परीक्षण
GJB 548B-2005 "माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक उपकरणों के लिए परीक्षण विधियां और प्रक्रियाएं" विधि 1001 कम दबाव (उच्च ऊंचाई पर काम)
GB/T 2423.21-2008 "इलेक्ट्रिकल और इलेक्ट्रॉनिक उत्पादों के लिए पर्यावरण परीक्षण भाग 2: परीक्षण विधि परीक्षण एमः निम्न दबाव"
GB/T 2423.25-2008 "इलेक्ट्रिकल और इलेक्ट्रॉनिक उत्पादों के लिए पर्यावरण परीक्षण भाग 2: परीक्षण विधि परीक्षण Z/AM: निम्न तापमान/निम्न दबाव व्यापक परीक्षण"
GB/T 2423.26-2008 "इलेक्ट्रिकल और इलेक्ट्रॉनिक उत्पादों के लिए पर्यावरण परीक्षण भाग 2: परीक्षण विधि परीक्षण Z/BM: उच्च तापमान/कम दबाव संयुक्त परीक्षण"
GB/T4857.13-2005 "पैकेजिंग और परिवहन पैकेज के लिए बुनियादी परीक्षण भाग 13: निम्न दबाव परीक्षण विधि"